性能特點

專業(yè)鉛檢測儀，亦可用于鍍層檢測和全元素分析
內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片
電制冷硅針半導體探測器，摒棄液氮制冷
智能檢測軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品名稱： X熒光光譜儀
型號：EDX8660
輸入電壓：220±5V/50HZ(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
消耗功率：≤100（不包含電腦）
環(huán)境溫度：15°C-30°C
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔面積：605mm×385mm×60mm
外形尺寸：630mm×420mm×310 mm
重量：50kg

獨特配置：

信噪比增強器
獨特的光路增強系統(tǒng)
電制冷硅針半導體檢測器
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換準直器和濾光片
精準的移動平臺
加強金屬元素感度分析器
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
任意多個可選擇的分析和識別模型

技術(shù)指標

測量元素：從硫到鈾等 75 種元素
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢測限最高達 1ppm
測量時間：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管壓：5-50 kV
管流：50-1000μA
13670007117